原発事故で飛散した放射性微粒子の走査透過型電子顕微鏡による微細構造解析 ~微粒子に取り込まれた放射性元素Csの挙動を探る~

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小暮敏博教授、奥村大河特任研究員らの研究が、NanotechJapan Bulletin に掲載されました。

原発事故で飛散した放射性微粒子の走査透過型電子顕微鏡による微細構造解析 ~微粒子に取り込まれた放射性元素Csの挙動を探る~
東京大学微細構造解析プラットフォームの走査透過型電子顕微鏡(JEM-2800)の前にて (前列左から)小暮 敏博氏,奥村 大河氏, (後列左から)松畑 洋文氏,熊本 明仁氏

詳細については、以下をご参照ください。