各設備・資料等利用

地球惑星科学専攻 共用機器利用案内

専攻共用機器とは

本専攻において、とくに共用性の高い分析装置等を専攻共用機器として定め、専攻としてその維持・運営に努めているものです。2014年4月時点で下のような9台の機器があります(各機器名のところに簡単な説明が貼られています)。より詳しい説明や詳細は装置担当者にお問い合わせください。

利用資格

本専攻に所属する学生(両学科生を含む)及び本専攻の基幹講座に所属する教職員・研究員ならば誰でも使えます。但しセルフユーズにはそれなりの教育が必要です。(一部セルフユーズができない機器もあります。)
なお、専攻共用機器は本専攻外の人も利用資格を有しますが,利用する前に装置担当者にお問い合わせください。

使用料

専攻共用機器の使用には使用料が発生し、研究員や学生が使用する場合は、所属する研究室の教員に課金されます。また機器担当者にオペレーションを依頼する場合には、その分の課金も行われます。そのため、教員以外の方が使用される場合は必ず、所属する研究室の教員に相談してから使用するようにしてください。各機器の使用料については担当者にお尋ねください。

機器番号 機器名 主担当者 内線 アドレス*
1 多試料測定用X線粉末回折装置(XRD) 小林 明浩 24557 akobayashi
2 X線粉末回折装置(XRD) 市村 康治 24557 ichimura
3 高分解能電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 市村 康治 24557 ichimura
4 分析用電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 吉田 英人 24528 yoshida
5 電子線マイクロアナライザー(EPMA) 吉田 英人 24528 yoshida
6 電界放出型電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA) 市村 康治 24557 ichimura
8 安定同位体比質量分析計(IS-MS) 小林 明浩 24557 akobayashi
9 レーザーアブレーション-プラズマイオン源質量分析計(LA-ICPMS) 小林 明浩 24557 akobayashi

*: 各アドレスの後ろに@eps.s.u-tokyo.ac.jpをつけて下さい。

多試料測定用X線粉末回折装置 (XRD)

共用機器番号:1

装置名: 多試料測定用X線粉末回折装置 PANalytical X’Pert Pro MPD
設置場所: 理学部1号館中央棟 地下1階 B141室 「X線実験室」
原理と特徴: 鉱物が固有の格子間隔を持つ性質を利用して,粉末試料にX線をあて,回折角度ごとの回折X線強度を測定することによって,試料中に含まれる鉱物の同定や含有量の推定を行う.本装置は自動で試料を装填できる機構を備えており,一度に45個の試料が装填できる.
装置担当者: 小林明浩 Tel: 24557 akobayashi[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp 

XRD

X線粉末回折装置 (XRD)

共用機器番号:2

装置名:X線粉末回折計 Rigaku RINT-2100
設置場所:理学部1号館中央棟 地下1階 B141室 「X線実験室」
原理と特徴:地球の構成成分である鉱物などのX線回折図形を測定する分析機器であり,以下のような解析を行うことができる.
(1) 既知物質のX線回折図形と比較することによって,物質の同定ができる.
(2) 同じ化学組成をもちながら構造の異なる多形を見分けることができる.
(3) 構成相の定量分析が実施できる.
(4) リートベルト法および直接法を組み合わせ,未知物質の構造を決定できる.
なお,本システムは,天然および合成の既知の物質に関するX線粉末データベースを完備しており,実験で得られたX線粉末回折図形から,該当する物質をコンピューター検索できる.
装置担当者:市村康治 Tel: 24557 ichimura[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp

XRD

高分解能電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)

共用機器番号:3

装置名:冷陰極電界放射型走査電子顕微鏡 Hitachi S-4500
設置場所:理学部1号館中央棟 地下2階 B238室「走査電子顕微鏡室」
原理と特徴:冷陰極電界放射型の電子銃を搭載した走査電子顕微鏡(SEM)で,この電子銃の高輝度と低エネルギー幅により10万倍以上の高分解能観察が可能.同時にこ の電子顕微鏡は,以下の6つの信号検出器を試料室の周囲の配置し,試料から様々な情報を得ることができる.(1)上方二次電子検出器  (2)下方二次電子検出器 (3)高感度反射電子(BSE)検出器 (4)エネルギー分散型X線(EDS)検出器 (5)二次元後方反射電子回折(EBSD)検出器 (6)半導体型前方反射電子(FSE)検出器
装置担当者:市村康治 Tel: 24557 ichimura[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp

FE-SEM

分析用電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)

共用機器番号:4

装置名:後方散乱電子線回折装置つき電界放射型走査電子顕微鏡 JEOL JSM-7000F
設置場所:理学部1号館中央棟 地下2階 B238室 「走査電子顕微鏡室」
原理と特徴:電界放射型走査電子顕微鏡は,高真空で試料に電子線を試料表面照射,走査し,発生する2次電子や後方散乱電子などを検出器にとらえ, 数10ナノメートル程度までの分解能で,試料の表面状態や形状,密度などの情報を面的にとらえるための装置である.主に岩石や鉱物の微細組織の観察に用いられる.エネルギー分散型分光計の併用により,局所あるいは2次元的な多元素の分布を知ることができる.さらに,後方散乱電子線回折は,微細領域における結晶の方位を決定することのできる装置である.この装置により,微細領域の化学的・岩石・鉱物構造的情報をえることができるため,地球や惑星, 隕石などの試料,あるいは実験により合成された物質の構造,化学的特徴などを知ることに応用されている.本装置は2005年4月に導入されたばかりの装置であるため,当面,主に科研費によるプロジェクトの推進に使用している.
装置担当者:吉田英人 Tel: 24528 yoshida[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp

FE-SEM

電子線マイクロアナライザー (EPMA)

共用機器番号:5

装置名:EPMA (Electron Probe Micro Analyzer) JEOL JXA-8900L型
設置場所:理学部1号館中央棟 地下1階 B136室 「EPMA分析室」
原理と特徴:1ミクロンまで絞った電子線を試料に照射し,固体物質表面と電子の相互作用により,発生する特性X線を検出し,試料を破壊することなく,構成元素の種類, 含有量,分布状態を多角的に調べることができる.本装置は波長分散型X線検出器(WDS)をそれぞれの装置で5台ずつ搭載しており,さらに1台にはエネル ギー分散型X線検出器(EDS)も装備されている.極めて小さな領域から得られる組成情報を用いて,マグマの中での結晶成長や,宇宙空間での固体物質の形 成など物質進化に関する情報を得ることができる.また材料科学の評価に用いられる.
装置担当者:吉田英人 Tel: 24528 yoshida[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp

EPMA

電界放出型電子線マイクロアナライザー (FE-EPMA)

共用機器番号:6

装置名:FE-EPMA JEOL JXA-8530F
設置場所:理学部1号館中央棟 地下1階 B136室 「EPMA室」
原理と特徴:電子線マイクロアナライザー(Electron Probe Microanalyzer; EPMA)とは、プローブ径を数マイクロメートル以下に絞った電子ビームを固体試料の表面に照射して、発生した特性X線の波長と強度とを測定することにより、電子ビームが照射されている微小領域の元素分析を非破壊で行う装置である.さらに、電界放出型(Field Emission; FE)の電子銃を搭載したFE-EPMAでは、サブマイクロメートルの領域の測定を可能にしている.本装置には、計10個の分光結晶を5チャンネルに設置しており、多種類の元素を高精度かつ迅速に分析することが可能である.さらに、反射・透過照明装置、二次電子検出器・反射電子検出器、エネルギー分散型X線分析装置(EDS)、パンクロ(3色フィルターが別に装着可能)型のカソードルミネッセンス検出器を設置しており、最適な分析位置を効率的かつ効果的に探すことができる.また、分光型のカソードルミネッセンス測定システムも備えている.
装置担当者:市村康治 Tel: 24557 ichimura[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp

FE-EPMA

安定同位体比質量分析計

共用機器番号:8

装置名:安定同位体比質量分析計 Finnigan MAT252
設置場所:理学部1号館中央棟 地下1階 B137室「質量分析実験室」
原理と特徴:さまざまな地質,環境,生物試料に含まれている水素および炭素,酸素の安定同位体比(2H/1H, 13C/12C, 18O/16O)を測定することができる.測定した安定同位体比の解析によって,試料の起源や生成・続成過程の情報を読み取ることができる.この装置は,ガス化した試料を熱電子によりイオン化し,生成した同位体イオンを電場により真空中で加速,磁場によって質量ごとに分け,その存在比を測定する.炭酸塩試料の酸素・炭素安定同位体比は,1試料ごとにマニュアルで測定することもできるし,自動炭酸塩前処理装置 (Kiel III)を接続して,微量(70マイクログラム)の試料を1日に30個まで自動で測定することもできる.
装置担当者:小林明浩 Tel: 24557 akobayashi[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp IS-MS

レーザーアブレーション-プラズマイオン源質量分析計 (LA-ICPMS)

共用機器番号:9

装置名:サーモフィッシャーサイエンティフィック iCAP Q及びNeptune Plus設置場所:理学部1号館中央棟 地下1階 B139室 「ICP質量分析室」原理と特徴:ICPMSは高温のアルゴンプラズマで元素をイオン化し,そのイオンを電場や磁場によって質量毎に分けて,元素濃度や同位体組成を決定する質量分析計である.アルゴンプラズマは非常に高温であり,殆どの元素(希ガス,ハロゲン以外)を効率良くイオン化することができる.また,プラズマイオン源が大気圧下にあるため,様々な試料導入法と組み合わせることが可能であり,レーザーアブレーション試料導入法と組み合わせることで,鉱物やガラスなどの固体試料の微量元素濃度や同位体組成を高い空間分解能(~10 µm)で決定することができる.装置担当者:小林明浩 Tel: 24557 akobayashi[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp

 ICPMS ICPMS