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情報

蛍光X線分析装置 (XRF)

共用機器番号:7
装置名:
蛍光X線分析装置 (XRF) PANalytical Axios 2007年7月導入

設置場所:
理学部1号館中央棟 地下1階 B141室 「X線実験室」

原理と特徴:
X線を試料に照射し,固体物質表面とX線の相互作用により,発生する特性X線を検出することにより,構成元素の種類,含有量を調べることができる.本装置は自動試料装填機を備えており,同時に29個の試料が装填できる.
この装置は主に火成岩や堆積岩の全岩化学組成を求めるのに利用されている.

装置担当者:
吉田英人 Tel: 24528 yoshida[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp

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